蛍光X線分析装置
品質技術監督局(環境指令)
RhoHS / Rhos(中国)/ ELF / EN71
おもちゃ
紙、陶磁器、ペンキ、金属など。
電気および電子材料
半導体、磁性材料、はんだ、電子部品など。
鋼、非鉄金属
合金、貴金属、スラグ、鉱石など。
化学工業
鉱物製品、化学繊維、触媒、コーティング、塗料、化粧品など。
環境
土壌、食品、産業廃棄物、石炭粉末
油
オイル、潤滑油、重油、ポリマーなど。
他の
コーティングの厚さの測定、石炭、考古学、材料研究および法医学など。
●3種類のX線放射線安全システム、ソフトウェアインターロック、ハードウェアインターロック、および機械的インターロックは、あらゆる作業条件下での放射線漏れを完全に排除します。
●XD-8010は、さまざまなフィルターとコリメーターを切り替える柔軟性を維持しながら、X線源、サンプル、および検出器間の距離を最小限に抑える独自に設計された光路を備えています。これにより、感度が大幅に向上し、検出限界が低下します。
●大容量のサンプルチャンバーにより、損傷や前処理を行うことなく、大量のサンプルを直接分析できます。
●便利で直感的なソフトウェアインターフェイスを使用した、シンプルなワンボタン分析。機器の基本的な操作を行うために専門的なトレーニングは必要ありません。
●XD-8010は、調整可能な分析時間で、SからUまでの元素の迅速な元素分析を提供します。
●フィルターとコリメーターの最大15の組み合わせ。さまざまな厚さと材質のフィルター、およびΦ1mmからΦ7mmの範囲のコリメーターが利用可能です。
●強力なレポートフォーマット機能により、自動生成された分析レポートを柔軟にカスタマイズできます。生成されたレポートは、PDFおよびExcel形式で保存できます。分析データは、各分析後に自動的に保存されます。履歴データと統計には、簡単なクエリインターフェイスからいつでもアクセスできます。
●装置のサンプルカメラを使用して、X線源の焦点に対するサンプルの位置を観察できます。サンプルの写真は分析の開始時に撮影され、分析レポートに表示できます。
●ソフトウェアのスペクトル比較ツールは、定性分析および材料の識別と比較に役立ちます。
●定性的および定量的分析の実証済みの効果的な方法を使用することにより、結果の正確性を保証できます。
●オープンで柔軟な検量線フィッティング機能は、有害物質の検出などのさまざまなアプリケーションに役立ちます。
有害元素分析法
有害物質 | 例 | |
スクリーニング分析 | 詳細な分析 | |
Hg | X線分光法 | AAS |
Pb | ||
Cd | ||
Cr6 + | X線分光法(総Crの分析) | イオンクロマトグラフィー |
PBB / PBDE | X線分光法(総Brの分析) | GC-MS |
品質管理プロセス
Cr、Br、Cd、Hg、Pbなどのポリエチレンサンプル中の有害な微量元素の測定。
•与えられた値とCr、Br、Cd、Hg、Pbの実際の値の差。
与えられた値とCrの実際の値の差(単位:ppm)
サンプル | 与えられた価値 | 実際の値(XD-8010) |
空欄 | 0 | 0 |
サンプル1 | 97.3 | 97.4 |
サンプル2 | 288 | 309.8 |
サンプル3 | 1122 | 1107.6 |
与えられた値とBrの実際の値の差(単位:ppm)
サンプル | 与えられた価値 | 実際の値(XD-8010) |
空欄 | 0 | 0 |
サンプル1 | 90 | 89.7 |
サンプル2 | 280 | 281.3 |
サンプル3 | 1116 | 1114.1 |
与えられた値とCdの実際の値の差(単位:ppm)
サンプル | 与えられた価値 | 実際の値(XD-8010) |
空欄 | 0 | 0 |
サンプル1 | 8.7 | 9.8 |
サンプル2 | 26.7 | 23.8 |
サンプル3 | 107 | 107.5 |
与えられた値と実際の値の差ogHg、(単位:ppm)
サンプル | 与えられた価値 | 実際の値(XD-8010) |
空欄 | 0 | 0 |
サンプル1 | 91.5 | 87.5 |
サンプル2 | 271 | 283.5 |
サンプル3 | 1096 | 1089.5 |
与えられた値とPbの実際の値の差(単位:ppm)
サンプル | 与えられた価値 | 実際の値(XD-8010) |
空欄 | 0 | 0 |
サンプル1 | 93.1 | 91.4 |
サンプル2 | 276 | 283.9 |
サンプル3 | 1122 | 1120.3 |
サンプル3の繰り返し測定データCr1122ppm、Br116ppm、Cd10ppm、Hg1096ppm、Pb1122ppm(単位:ppm)
Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
1 | 1128.7 | 1118.9 | 110.4 | 1079.5 | 1109.4 |
2 | 1126.2 | 1119.5 | 110.8 | 1072.4 | 1131.8 |
3 | 1111.5 | 1115.5 | 115.8 | 1068.9 | 1099.5 |
4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
5 | 1115.6 | 1123.6 | 103.9 | 1080.7 | 1114.8 |
6 | 1136.6 | 1113.2 | 101.2 | 1068.8 | 1103.6 |
7 | 1129.5 | 1112.4 | 105.3 | 1079.0 | 1108.0 |
平均 | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076.5 | 1110.0 |
標準偏差 | 8.61 | 4.03 | 4.99 | 6.54 | 10.82 |
RSD | 0.77% | 0.36% | 4.62% | 0.61% | 0.98% |
Pbエレメント用二次フィルター(鋼基板サンプル)、サンプル:鋼(Pb 113ppm)
1.一次X線管からのX線放射は、コリメータを介してサンプルに照射されます。
2.二次コリメータを通過して検出器に入るサンプルX線に含まれる元素の一次X線励起特性
3.検出器を介して処理され、蛍光分光データを形成します
4.コンピューター分光データ分析、定性・定量分析が完了しました
モデル | NB-8010 | |
分析 原理 | エネルギー分散型X線蛍光 分析 | |
要素の範囲 | S(16)U(92)任意の要素 | |
サンプル | プラスチック/金属/フィルム/固体/ 液体/粉末など、任意のサイズと不規則な形状 | |
X線管 | 目標 | Mo |
管電圧 | (5-50)kV | |
管電流 | (10-1000)など | |
サンプル照射 直径 | F1mm-F7mm | |
フィルター | 15セットの複合フィルターは 自動的に選択され、自動変換 | |
検出器 | 米国からの輸入 Si-PIN検出器 | |
データ処理 回路基板 | 米国からの輸入品、 Si-PIN検出器セットの使用 | |
サンプル 観察 | 300,000ピクセルCCDカメラ付き | |
サンプルチャンバー サイズ | 490(L)´430(W)´150(H) | |
分析方法 | 線形線形、二次コード行、 強度と濃度のキャリブレーション補正 | |
オペレーティング・システム ソフトウェア | Windows XP、Windows7 | |
データ管理 | Excelデータ管理、テストレポート、 PDF / Excel形式を保存 | |
働く 環境 | 気温:£30°C.湿度£70% | |
重さ | 55kg | |
寸法 | 550´450´395 | |
電源 | AC220V±10%、50 / 60Hz | |
決定 条件 | 大気環境 |