原子間力afm顕微鏡
原子間力顕微鏡（AFM）、絶縁体を含む固体材料の表面構造を研究するために使用できる分析機器。試験するサンプルの表面と微小力に敏感な元素との間の非常に弱い原子間相互作用を検出することにより、物質の表面構造と特性を研究します。非常に敏感なマイクロカンチレバーの端が固定された弱い力のペアになり、小さな先端のもう一方の端がサンプルに近づき、それと相互作用し、力によってマイクロカンチレバーの変形または移動状態が変化します。サンプルをスキャンする場合、センサーを使用してこれらの変化を検出し、力情報の分布を取得して、ナノ解像度情報の表面形態と表面粗さ情報を取得できます。
★統合された走査プローブとサンプルスタッグは、干渉防止能力を強化しました。
★精密レーザーとプローブ位置決め装置により、プローブの交換とスポットの調整が簡単で便利です。
★サンプルプローブの接近方法を使用することにより、針はサンプルスキャンに対して垂直になります。
★自動パルスモータードライブ制御サンプルプローブ垂直接近、スキャン領域の正確な位置決めを実現します。
★サンプルスキャン対象領域は、高精度サンプルモバイルデバイスの設計を使用して自由に移動できます。
★光学測位を備えたCCD観察システムは、プローブサンプルスキャン領域のリアルタイム観察と測位を実現します。
★モジュール化の電子制御システムの設計により、回路の保守と継続的な改善が容易になりました。
★マルチスキャンモード制御回路の統合、ソフトウェアシステムとの連携。
★シンプルで実用的な干渉防止力を高めたスプリングサスペンション。
| 作業モード | FM-タッピング、オプションの接触、摩擦、位相、磁気または静電 |
| サイズ | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Scanningrange | 20 mminXY方向,Z方向に2mm。 |
| Scanningresolution | XY方向に0.2nm,Z方向に0.05nm |
| サンプルの移動範囲 | ±6.5mm |
| モーターのパルス幅が近づく | 10±2ms |
| 画像サンプリングポイント | 256×256,512×512 |
| 光学倍率 | 4X |
| 光学分解能 | 2.5mm |
| スキャンレート | 0.6Hz〜4.34Hz |
| スキャン角度 | 0°〜360° |
| スキャン制御 | XY方向の18ビットD / A,Z方向の16ビットD / A |
| データサンプリング | 14ビットA / D,double16ビットA / Dマルチチャネル同期サンプリング |
| フィードバック | DSPデジタルフィードバック |
| フィードバックサンプリングレート | 64.0KHz |
| コンピューターインターフェース | USB2.0 |
| 動作環境 | Windows98 / 2000 / XP / 7/8 |
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